[发明专利]参数异常原因的确定方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202110858779.0 | 申请日： | 2021-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN113516518A | 公开（公告）日： | 2021-10-19 |
| 发明（设计）人： | 李丹丹;慕学玲;杜新凯 | 申请（专利权）人： | 阳光保险集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G06Q30/02 | 分类号： | G06Q30/02 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 刘凤 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种参数异常原因的确定方法、装置、电子设备及存储介质，该确定方法包括：根据计算异常参数的计算公式以及该异常参数的各个维度，确定该异常参数的各个异常路径；针对每个异常路径，根据该异常路径中包含的各个子参数的正常值和异常值，确定该异常路径的贡献值和主要子参数；根据每个异常路径的贡献值，该异常路径以及该异常路径的上级异常路径分别被访问的次数，确定该异常路径的异常分析值；基于每个异常路径的异常分析值，将异常分析值满足预设要求的异常路径的主要子参数作为新的异常参数，直至满足退出条件时，确定根源异常参数和总异常路径。本申请通过对异常路径的异常分析值的确定，提高了确定参数异常原因的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 参数 异常 原因 确定 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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