[发明专利]基于非理想无磁场点的磁纳米粒子成像方法有效
| 申请号： | 202110824213.6 | 申请日： | 2021-07-21 |
| 公开（公告）号： | CN113534025B | 公开（公告）日： | 2022-06-14 |
| 发明（设计）人： | 田捷;李怡濛;惠辉;张鹏 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | A61B5/0515 | 分类号： | A61B5/0515 |
| 代理公司： | 北京天汇航智知识产权代理事务所(普通合伙) 11987 | 代理人： | 黄川 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于非理想无磁场点(FFP)的磁纳米粒子成像方法，该方法基于非理想FFP的磁场条件，分析非理想FFP区域的SPIOs的响应以及检测线圈的电压信号特征，通过获取等效理想FFP电压信号与等效FFP移动速度，求解图像值从而得到重建结果。该方法减少了因为实际MPI仪器中FFP不是理想无磁场区域对图像重建产生的伪影与相位误差，弥补了传统重建方法忽略实际非理想FFP情况进行重建的不足，极大提高重建质量与分辨率。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 理想 磁场 纳米 粒子 成像 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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