[发明专利]被动式累积剂量测量系统测试校准检定装置及方法在审
申请号: | 202110814704.2 | 申请日: | 2021-07-19 |
公开(公告)号: | CN114063142A | 公开(公告)日: | 2022-02-18 |
发明(设计)人: | 刘志宏;冉文杰;于兵;但玉娟 | 申请(专利权)人: | 中国测试技术研究院辐射研究所 |
主分类号: | G01T7/00 | 分类号: | G01T7/00 |
代理公司: | 成都蓉创智汇知识产权代理有限公司 51276 | 代理人: | 谭新民 |
地址: | 610000*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请公开了一种被动式累积剂量测量系统测试校准检定装置及方法,包括以下步骤:1选取辐射源;2选取技术文件;3照射;4组标记和组特征量存入VID;5选取物理硬件连接方式;6选取Tx/Rx数据包格式定义;7传递剂量计和组标记;8读出;9接收;10读出组特征量;11测试结果/结论;12生成测试报告或校准证书或检定证书。通过本装置取代部分人工劳动,在配套使用方法的支撑下编制相应软件实现数据采集/处理/填写证书变为机器设备自动/半自动处理,装置操作人员不再使用计算器或某表格来处理数据,通过辐射状态监测单元和剂量监督单元可及时发现照射异常,可提高约定值的可靠性并及时给出约定值的旁证数据。 | ||
搜索关键词: | 被动式 累积 剂量 测量 系统 测试 校准 检定 装置 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国测试技术研究院辐射研究所,未经中国测试技术研究院辐射研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110814704.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:基片处理装置和基片处理方法
- 下一篇:显示装置及包含该显示装置的移动终端装置