[发明专利]一种光学系统热变形测试系统及方法在审
| 申请号： | 202110800260.7 | 申请日： | 2021-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN113588223A | 公开（公告）日： | 2021-11-02 |
| 发明（设计）人： | 孙胜利;金钢 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海技术物理研究所 |
| 主分类号： | G01M11/04 | 分类号： | G01M11/04;G01M11/02 |
| 代理公司： | 重庆市信立达专利代理事务所(普通合伙) 50230 | 代理人： | 刘洁 |
| 地址： | 200083 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明属于热光试验技术领域，公开了一种光学系统热变形测试系统及方法，所述光学系统热变形测试系统设置有温度试验柜，温度试验柜右端设置有红外目标模拟器，温度试验柜底侧设置有真空二维转台，真空二维转台上设置有扫描指向镜和待测相机；扫描指向镜与扫描镜控制系统连接，温度试验柜分别与控温测温系统、制冷机控制系统和数据采集系统。本发明中温度试验过程中需要目标模拟器配合使用，监视温度产生的性能变化，对于发现相机的合适工作点，准确的获取相机温度变化性能，同时对发现温度试验过程的变化有比较大的好处。本发明中红外目标模拟为真空腔设计，温度试验柜与其直接对接使用，同为真空腔设计。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学系统 变形 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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