[发明专利]一种电子元器件测试装置及其测试方法有效
| 申请号： | 202110798405.4 | 申请日： | 2021-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN113552463B | 公开（公告）日： | 2022-04-26 |
| 发明（设计）人： | 孙振亚;刘栋斌;赵越;李巍;李哲;王小朋;高志良;刘衍峰;张达 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人： | 魏毅宏 |
| 地址： | 130033 吉林省长春*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种电子元器件测试装置及其测试方法，所述电子元器件测试装置包括基座、内层板、多个插针、锁定释放件以及盖板，所述基座固定在印刷电路板上，所述内层板和所述锁定释放件设置在所述基座上，多个所述插针穿插于所述内层板和所述基座，并具有插槽以供电子元器件的管脚插入，其中通过转动所述锁定释放件的方式，能够切换所述插槽的打开状态和关闭状态，从而实现电子元器件的管脚的插入和锁紧，其中所述锁紧释放件被设置为能够在所述基座的侧面沿其轴线方向被转动，且在被转动时不碰触到电子元器件，因此能够避免与电子元器件发生干涉，拥有更高的适用性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子元器件 测试 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
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