[发明专利]共轴式轴向调制高分辨光声显微成像方法及成像系统有效
| 申请号： | 202110794440.9 | 申请日： | 2021-07-14 |
| 公开（公告）号： | CN113654993B | 公开（公告）日： | 2022-11-29 |
| 发明（设计）人： | 杨孝全;李艳;于夕淼;龚辉;骆清铭 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G01N21/17 | 分类号： | G01N21/17 |
| 代理公司： | 杭州宇信联合知识产权代理有限公司 33401 | 代理人： | 王健 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了共轴式轴向调制高分辨光声显微成像方法及成像系统，属于显微成像领域，具体的搭建了一套完整的共轴式轴向调制高分辨光声显微成像系统，避免了正交式轴向结构光调制光声信号方案中轴向分辨率较差的问题。同时本发明还提供了一套轴向调制光声信号方法，通过将轴向结构光调制原理与超声探测相结合，打破了PAM系统轴向分辨率受限于超声探头探测带宽的限制，获取了轴向高分辨的PAM系统成像结果，同时避免了现有提高PAM系统轴向分辨率存在光损伤的弊端。在轴向调制光声信号方法中基于双环缝法提供了一种共轴式轴向结构光实现方案，通过改变输入光场，便可轻松获得具有不同初始相位差环缝掩膜版在透镜后焦面附近的三维光场分布，计算简单。 | ||
| 搜索关键词： | 共轴式 轴向 调制 分辨 显微 成像 方法 系统 | ||
【主权项】：
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