[发明专利]用于测量晶体光弹系数的加压装置、测量系统及方法有效
申请号: | 202110792327.7 | 申请日: | 2021-07-14 |
公开(公告)号: | CN113252610B | 公开(公告)日: | 2021-09-21 |
发明(设计)人: | 富容国;陈旭彬 | 申请(专利权)人: | 南京理工大学 |
主分类号: | G01N21/45 | 分类号: | G01N21/45;G01L1/24 |
代理公司: | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人: | 陈鹏 |
地址: | 210094 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种用于测量晶体光弹系数的加压装置、测量系统及方法,所述加压装置包括支撑柱、顶板及底座组成的框架;顶板下侧固定连接电动液压杆,同时通过两根圆柱固定连接约束筒,约束筒内设有球形压珠;底座上端固定安装有受压平板,受压平板上安装有用于夹持待测量晶体的夹具,夹具用于放置晶体位置的上方设有受压块,受压块的上方为施压机构,施压机构为倒置T形,包括施压杆和施压平板,施压平板和受压块平面接触;施压杆上端和电动液压杆下端均位于约束筒内,并分别与球形压珠点接触,构成球面副结构,加压时电动液压杆下端挤压球形压珠,对施压杆加压。本发明实现测量晶体光弹系数时的均匀加压,提高晶体光弹系数的测量精度。 | ||
搜索关键词: | 用于 测量 晶体 系数 加压 装置 系统 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京理工大学,未经南京理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110792327.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。