[发明专利]基于调制区块叠加合成掩模图形的曲线型逆向光刻方法在审
申请号: | 202110778400.5 | 申请日: | 2021-07-09 |
公开(公告)号: | CN113589643A | 公开(公告)日: | 2021-11-02 |
发明(设计)人: | 陈国栋;李思坤;王向朝 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G03F1/38 | 分类号: | G03F1/38;G03F7/20 |
代理公司: | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人: | 张宁展 |
地址: | 201800 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 基于调制区块叠加合成掩模图形的曲线型逆向光刻方法,采用两级划分实现掩模图形的像素化,一级划分将掩模图形离散化成粗网格,二级划分将粗网格离散化成更小的细网格。在每个粗网格中心点处施加平滑程度相同的高斯调制,调制区域为各个粗网格中心点的八邻域粗网格中心点围成的方形区块。利用一个调制矩阵控制所有高斯核的强度分布,进而控制各个调制区块内的细网格透过率,将所有调制区块叠加即可合成完整的掩模图形。以不同曝光剂量偏差和离焦量条件下光刻胶图形与目标图形之间的图形误差的加权和作为评价函数,通过优化调制矩阵间接实现掩模优化。本发明采用区块级的掩模修正,减少了优化变量维数,有效提高了掩模优化效率。 | ||
搜索关键词: | 基于 调制 区块 叠加 合成 图形 曲线 逆向 光刻 方法 | ||
【主权项】:
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
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