[发明专利]一种准光腔双层材料介电性能测试方法在审
| 申请号： | 202110770472.5 | 申请日： | 2021-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN113608032A | 公开（公告）日： | 2021-11-05 |
| 发明（设计）人： | 邹翘;赵锐;张升华;王亚海;年夫顺 | 申请（专利权）人： | 中电科思仪科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 青岛智地领创专利代理有限公司 37252 | 代理人： | 肖峰 |
| 地址： | 266555 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种准光腔双层材料介电性能测试方法，属于材料介电性能测试领域，通过考虑不同媒质界面反射的影响因素，再根据电磁波多层电解质分解面上的传播理论，然后利用多层媒质边界条件将谐振时不同媒质的电磁场分量进行匹配，从而完成准光腔双层材料介电常数高精度介电性能测试。本发明可测试两层介质材料其中一层为待测介电性能材料，另一层为可单独测试介电参数材料，也可测试利用如聚四氟乙烯、石英制备容器等容器盛装测试液体、粉末状材料的介电参数。本发明针对双层材料测试具有更高的测试精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 准光腔 双层 材料 性能 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中电科思仪科技股份有限公司，未经中电科思仪科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110770472.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种手机屏幕清理设备
- 下一篇：一种展示柜搁架用支撑限位件及支撑装置
