[发明专利]超导单磁通量子电路的测试系统有效
| 申请号： | 202110758244.6 | 申请日： | 2021-07-05 |
| 公开（公告）号： | CN113295987B | 公开（公告）日： | 2022-07-08 |
| 发明（设计）人： | 任洁;陈理云;应利良;王镇 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海泰博知识产权代理有限公司 31451 | 代理人： | 钱文斌 |
| 地址： | 200050 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种超导单磁通量子电路的测试系统，在设计好的电路进行制版流片时，将该选片电路与待测电路放置在同一个芯片上，在测试时，就可以先对选片电路进行一个快速的测试，得到选片电路的测试结果，这样就可以反映出这一个芯片的质量，从而测试人员可以根据选片电路的测试结果来选择芯片质量较好的电路进行待测电路的测试，来节约测试电路所用的时间。本发明设计了三种不同的选片电路，分别对应了不同的电路测试难度，来应对不同的工艺或待测电路的需要。本发明的电路仅需要三个端口连接；电路测试简单快捷；电路规模较小；电路复杂度可调。 | ||
| 搜索关键词： | 超导 磁通量 电路 测试 系统 | ||
【主权项】：
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