[发明专利]超导单磁通量子电路的测试系统

权利要求书

1.一种超导单磁通量子电路的测试系统，其特征在于，所述超导单磁通量子电路的测试系统至少包括：

待测电路及至少一选片电路，各选片电路与所述待测电路设置于同一芯片上；

所述选片电路接收一个输入信号、一个偏置信号，并输出一个输出信号，基于各选片电路的测试结果确定当前芯片的质量，其中，所述选片电路包括第一接口模块，约瑟夫森结传输线模块及第二接口模块；所述第一接口模块接收输入信号；所述约瑟夫森结传输线模块连接于所述第一接口模块的输出端；所述第二接口模块连接于所述约瑟夫森结传输线模块的输出端，并输出所述选片电路的输出信号；所述偏置信号为所述选片电路中的约瑟夫森结提供偏置电流。

2.根据权利要求1所述的超导单磁通量子电路的测试系统，其特征在于：所述第一接口模块为DC/超导单磁通量子转换器，所述第二接口模块为超导单磁通量子/DC转换器。

3.根据权利要求1或2所述的超导单磁通量子电路的测试系统，其特征在于：所述约瑟夫森结传输线模块包括至少一路约瑟夫森结传输线。

4.根据权利要求1所述的超导单磁通量子电路的测试系统，其特征在于：所述选片电路为基于同或型线性反馈移位寄存器。

5.根据权利要求4所述的超导单磁通量子电路的测试系统，其特征在于：所述选片电路包括第三接口模块、第四接口模块、第一触发器、第二触发器、第三触发器、第一异或门及第一反相器；

所述第三接口模块接收时钟信号，并将所述时钟信号提供给所述第一触发器、所述第二触发器、所述第三触发器、所述第一异或门及所述第一反相器；

所述第一触发器的输入端连接所述第三触发器的输出端；

所述第二触发器的输入端连接所述第一触发器的输出端；

所述第一异或门的输入端分别连接所述第二触发器及所述第三触发器的输出端，对所述第二触发器的输出信号及所述第三触发器的输出信号进行异或运算；

所述第一反相器的输入端连接所述第一异或门的输出端；

所述第三触发器的输入端连接所述第一反相器的输出端；

所述第四接口模块连接于所述第三触发器的输出端，并输出所述选片电路的输出信号；

所述偏置信号为所述选片电路中的约瑟夫森结提供偏置电流。

6.根据权利要求5所述的超导单磁通量子电路的测试系统，其特征在于：所述第三接口模块为DC/超导单磁通量子转换器，所述第四接口模块为超导单磁通量子/DC转换器。

7.根据权利要求5或6所述的超导单磁通量子电路的测试系统，其特征在于：所述选片电路还包括第一分流模块及第二分流模块；

所述第一分流模块的输入端连接所述第三接口模块的输出端，将所述第三接口模块的输出信号分为多路后分别提供给所述第一触发器、所述第二触发器、所述第三触发器、所述第一异或门及所述第一反相器；

所述第二分流模块的输入端连接所述第三触发器的输出端，将所述第三触发器的输出信号分为多路后分别提供给所述第一触发器、所述第一异或门及所述第四接口模块。

8.根据权利要求7所述的超导单磁通量子电路的测试系统，其特征在于：所述第一触发器、所述第二触发器及所述第三触发器为D触发器。