[发明专利]一种安全性高具有限位结构的芯片测试设备及测试方法在审
| 申请号： | 202110743155.4 | 申请日： | 2021-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN113466662A | 公开（公告）日： | 2021-10-01 |
| 发明（设计）人： | 孙冬媛 | 申请（专利权）人： | 孙冬媛 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04;H05K7/20 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 510000 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种安全性高具有限位结构的芯片测试设备及测试方法，涉及芯片检测技术技术领域，包括支撑主板和底座，所述支撑主板底部固定连接有调节机构，所述调节机构底部固定连接有位移机构，且位移机构固定安装在底座顶部，且底座顶部一侧设有调向机构，且调向机构顶部设有校准机构。本发明通过设计的调向机构和调节机构，同时吸热座能够通过一侧第三螺纹柱带动底部固定杆围绕销轴转动调节偏移角度，角度调节后能够适配对不同情况下的侧视角度支撑调节，在支撑时具有较高的限位安全性，能够通过多轴调节适配对芯片测试机本体的不同角度测试的支撑需要，显著提高适配能力，并且能够对角度进行调节定位，提高测试支撑调整效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 安全性 具有 限位 结构 芯片 测试 设备 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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