[发明专利]一种芯片烧录测试设备在审
| 申请号： | 202110706280.8 | 申请日： | 2021-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN113376512A | 公开（公告）日： | 2021-09-10 |
| 发明（设计）人： | 涂海涛;薛国荣;冼祖国;梁峰国;蒋三海 | 申请（专利权）人： | 深圳市海创嘉科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G06F8/61 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种芯片烧录测试设备，所述设备用以烧录或测试多个芯片，多个芯片被各自放置于托盘中的多个凹槽内；且芯片具有多个接脚，所述芯片烧录测试设备包括：座体；设置在所述座体上的轨道机构，包括两根平行轨道，用于将所述托盘卡接至所述平行轨道之间；托盘中的凹槽的底部具有多个通孔；探针板，与托盘紧贴设置，探针板包括多个探针；探针板上的探针与托盘中的凹槽底部的通孔一一对应；且所述探针板的上探针穿过托盘中的凹槽底部的通孔，并在所述托盘的凹槽底部透出，并与托盘凹槽底部的芯片上的接脚接触；设置在所述座体上的主机装置，与探针板电性连接；所述主机装置用以在芯片的接脚接触探针时，对多个芯片进行测试或数据烧录。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 设备 | ||
【主权项】：
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