[发明专利]一种基于X射线示踪颗粒的检测方法及检测装置有效
| 申请号： | 202110702896.8 | 申请日： | 2021-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN113418940B | 公开（公告）日： | 2023-03-14 |
| 发明（设计）人： | 张琼;高建华;林绿林;武蕙琳 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G01N23/18 |
| 代理公司： | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人： | 闫树平 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明属于缺陷检测技术领域，具体为一种基于X射线示踪颗粒的检测方法及检测装置，本发明根据被检测件自身的材料、尺寸、形状等参数信息建立出理想模型，随后在理想模型中进行各种缺陷(如：未封闭、多类型、复杂缺陷)模拟，通过对模拟的各种缺陷进行预扫描建立各种缺陷对应的评价标准图。然后将实际扫描结果与评价标准图进行比对，完成零件的缺陷检测。由于各种缺陷评价标准图是在检测前通过对模拟的各种缺陷进行预扫描建立的，相当于针对被检测件建立了一个完整的缺陷信息库，从而使得本发明能够适用于流水线操作,实现批量检测。与现有技术相比，本发明的检测方式更为简单准确，且无需对被检测件进行反复测量，因此具有更低的成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 射线 颗粒 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
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