[发明专利]基于X射线正弦图的增材器件内部结构几何参数测量方法在审
| 申请号： | 202110688533.3 | 申请日： | 2021-06-22 |
| 公开（公告）号： | CN113420438A | 公开（公告）日： | 2021-09-21 |
| 发明（设计）人： | 邹晶;宁子博;韩振烨 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06F30/17;G06N3/04;G06N3/08;G06T17/00;G06F113/10 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明的目的在于提供一种基于X射线正弦图的增材器件内部结构几何参数测量方法，该方法首先利用增材器件的CAD信息构建仿真模体获取正弦图，输入基于U‑Net结构的神经网络和基于FNN结构的神经网络进行训练。然后对增材器件实物进行X射线扫描，无需重建，利用基于U‑Net结构的神经网络，提取出增材器件中感兴趣结构的正弦图。将此正弦图进行裁剪和变换，减少计算量。最后使用基于FNN结构的神经网络计算出感兴趣结构的内部几何参数，包括面内几何参数如半径、边长、面积，空间几何参数如壁厚、高、体积，结构间几何参数如中心距离。该方法相对于通过重建三维结构获取内部几何参数信息的方法，可以避免重建带来的伪影问题，还可以提高测量效率。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 射线 正弦 器件 内部结构 几何 参数 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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