[发明专利]拜耳法中减少垢的方法在审
申请号: | 202110674648.7 | 申请日: | 2014-12-22 |
公开(公告)号: | CN113401927A | 公开(公告)日: | 2021-09-17 |
发明(设计)人: | D.A.塞沃;C.J.卡尔比克;F.库拉;D.史泰格;M.泰勒 | 申请(专利权)人: | 塞特工业公司 |
主分类号: | C01F7/06 | 分类号: | C01F7/06 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 黄念;李唐 |
地址: | 美国新*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 减少拜耳法中含铝硅酸盐垢的方法,该方法涉及在暴露于拜耳法流之前,用具有高离子强度的抑垢组合物处理拜耳法设备表面。 | ||
搜索关键词: | 拜耳法中 减少 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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