[发明专利]一种用于观察钝化膜纳米结构的透射电镜样品制备方法在审
| 申请号： | 202110657103.5 | 申请日： | 2021-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN113418762A | 公开（公告）日： | 2021-09-21 |
| 发明（设计）人： | 雷晓维;袁寅啸;杨瑞宁;韩三轩;白杨;王楠 | 申请（专利权）人： | 西北工业大学 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28;G01N23/04;G01N23/20008 |
| 代理公司： | 西北工业大学专利中心 61204 | 代理人： | 屠沛 |
| 地址： | 710072 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于观察钝化膜纳米结构的透射电镜样品制备方法，解决现有制备透射电镜样品方法存在的成本昂贵、成功率低、样品转移步骤较多、可能引起钝化膜物相组成改变从而影响表征结果的问题。本发明先从金属块材上切取片状试样，机械研磨至厚度为50‑100μm的薄片后，冲样得到金属圆片，进一步打磨后制备带有小孔的透射电镜样品，测试圆片的动电位极化曲线，选取合适的成膜电位进行钝化膜制备，然后使用透射电镜观察试样小孔薄区边缘钝化膜的纳米结构。本发明可在不同的成膜电位下制备钝化膜，并对比研究其厚度、物相结构与成分等物化特征，钝化膜制备完成后可直接于透射电镜中观察，有效减少了样品暴露于空气中的时间，而且制样成本低，操作简便。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 观察 钝化 纳米 结构 透射 样品 制备 方法 | ||
【主权项】：
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