[发明专利]一种应用于电容双参数测试分选机的自动测试方法在审
| 申请号： | 202110636805.5 | 申请日： | 2021-06-08 |
| 公开（公告）号： | CN113406431A | 公开（公告）日： | 2021-09-17 |
| 发明（设计）人： | 罗伟;窦国珍;肖冬;申敏 | 申请（专利权）人： | 成都云绎智创科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/01 | 分类号： | G01R31/01;G01R27/26;B07C5/344 |
| 代理公司： | 成都环泰专利代理事务所(特殊普通合伙) 51242 | 代理人： | 李斌;李辉 |
| 地址： | 610000 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种应用于电容双参数测试分选机的自动测试方法，包括以下步骤：S1、将电容测试仪表连接开关网络；S2、用射频机械式继电器开关将所述开关网络进行搭建；S3、所述搭建好的开关网络将电容测试仪表的电流驱动高端Hcur端口、电压检测高端Hpot端口、电流驱动低端Lcur端口和电压检测高端Lpot端口的信号分别分为多路，并每次导通一个通道；S4、分别将多路测试探针固定于上下两个针卡；S5、连接电容测试仪表、开关网络和测试探针，使用测试探针进行自动测试。能够仅通过一台电容测试仪表实现高频(1MHz)电容器的容值和损耗参数的多通道高速测试和自动分选，同时保证测试的高效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 应用于 电容 参数 测试 分选 自动 方法 | ||
【主权项】：
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