[发明专利]一种光纤磁致折变效应测量系统及方法有效
| 申请号： | 202110635314.9 | 申请日： | 2021-06-08 |
| 公开（公告）号： | CN113514787B | 公开（公告）日： | 2022-08-05 |
| 发明（设计）人： | 王廷云;刘思晨;黄怿;邓传鲁;胡程勇 | 申请（专利权）人： | 上海大学 |
| 主分类号： | G01R33/032 | 分类号： | G01R33/032 |
| 代理公司： | 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 | 代理人： | 何文欣 |
| 地址： | 200444*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光纤磁致折变效应测量系统及方法，包括激光器、耦合器甲、传感光纤、参考光纤、载波发生器、耦合器乙、光电探测器、数据采集与处理模块。耦合器甲、传感光纤、参考光纤和耦合器乙构成Mach‑Zehnder光纤干涉仪。外界磁场对传感光纤的折射率产生影响，引起传感光纤与参考光纤两路光信号的光程差变化，改变耦合器乙输出的干涉光信号强度，通过对干涉光强的检测与处理，实现对磁场作用下传感光纤的折射率变化测量。本发明系统具有灵敏度高，结构简单，可远程控制，可分布式测量的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光纤 折变 效应 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
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