[发明专利]磁场强度测量的磁电阻元件及其测量系统在审
申请号: | 202110608777.6 | 申请日: | 2021-06-01 |
公开(公告)号: | CN113433493A | 公开(公告)日: | 2021-09-24 |
发明(设计)人: | 方依霏;陈飞;张书隆;宾博逸 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01R33/10 | 分类号: | G01R33/10;G01R33/09;G01R33/00 |
代理公司: | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人: | 张宁展 |
地址: | 201800 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供了一种磁场强度测量的磁电阻元件及其测量系统。该系统包含磁电阻元件,温度传感器,数模转换单元,微处理单元,双电池模块和显示器。该系统的硬件结构包括探头、手柄和磁场强度测量系统,其中系统组件中包含温度传感器、磁电阻元件、微处理单元、显示器、电源模块,其中电源模块包含内置锂电池、引线、锁相放大器、外置电源。本发明在确保测量精度和易操作性的同时,提高了测试的场景适应性,既能用内置锂电池进行更便携的测试模式,又能在需要提高测量精度的时候切换至交流电测试模式;选用的基于磁电阻材料作为磁电阻元件的核心材料,使这套磁场强度测量工具相比于传统的高斯计能更适于在低温和强磁场的环境中使用。 | ||
搜索关键词: | 磁场强度 测量 磁电 元件 及其 系统 | ||
【主权项】:
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