[发明专利]基于Sketch的高性能任意部分键测量方法和系统有效
| 申请号： | 202110588731.2 | 申请日： | 2021-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN113297430B | 公开（公告）日： | 2022-08-05 |
| 发明（设计）人： | 杨仝;张寅达;王睿鑫 | 申请（专利权）人： | 北京大学 |
| 主分类号： | G06F16/901 | 分类号： | G06F16/901;G06F16/903;H04L43/0876 |
| 代理公司： | 北京君尚知识产权代理有限公司 11200 | 代理人： | 邱晓锋 |
| 地址： | 100871 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于Sketch的高性能任意部分键测量方法和系统。该方法包括：从每个数据包中提取全键及其大小，并将其哈希映射到sketch中每个数组的一个存储桶中；使用全键更新每个映射到的存储桶，并基于随机方差最小化技术确定全键的估计大小；基于数据平面中的sketch构建一个包含所有全键及其估计大小的查询表；在查询部分键时，在控制平面中聚合每个部分键对应的全键集合，得到部分键的估计大小。本发明在任意部分键测量任务上实现了很高的准确度，可以在较小的内存空间实现高速的运行，同时所测的部分键数量对系统性能无明显影响；通过增加硬件并行性和消除循环依赖，本发明得以在软件平台和硬件平台都能够实现且性能优异。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 sketch 性能 任意 部分 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
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