[发明专利]位置校正方法及位置校正设备有效

专利信息
申请号: 202110586234.9 申请日: 2021-05-27
公开(公告)号: CN113310406B 公开(公告)日: 2023-03-28
发明(设计)人: 陈鲁;王天民;张嵩 申请(专利权)人: 深圳中科飞测科技股份有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01N21/84
代理公司: 深圳市沈合专利代理事务所(特殊普通合伙) 44373 代理人: 沈祖锋
地址: 518109 广东省深圳市龙华区大浪街*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请公开了一种位置校正方法。位置校正方法用于校正工件的位置,工件形成有第一标记及第二标记,位置校正方法包括:利用第一成像装置以第一视场拍摄第一图像,且利用第二成像装置以第二视场拍摄第二图像,其中,第一视场小于第二视场;判断第一图像内是否包括第一标记的图像;若是,依据第一标记在第一图像内的位置,计算工件的一级位置偏差,及依据一级位置偏差对工件的位置进行第一校正;若否,判断第二图像内是否包括第二标记的图像;及若是,依据第二标记在第二图像内的位置,计算工件的二级位置偏差,及依据二级位置偏差对工件的位置进行第二校正,其中,第二校正的幅度大于第一校正的幅度。本申请还公开了一种位置校正设备。
搜索关键词: 位置 校正 方法 设备
【主权项】:
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