[发明专利]一种探测器气冷测试装置在审
申请号: | 202110577932.2 | 申请日: | 2021-05-26 |
公开(公告)号: | CN113311473A | 公开(公告)日: | 2021-08-27 |
发明(设计)人: | 付金煜;祝翱.吉马雷斯.达.科斯塔;梁志均;屈化民 | 申请(专利权)人: | 中国科学院高能物理研究所 |
主分类号: | G01T7/00 | 分类号: | G01T7/00 |
代理公司: | 北京君尚知识产权代理有限公司 11200 | 代理人: | 司立彬 |
地址: | 100049 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种探测器气冷测试装置,其特征在于,包括气体降温装置(1)、流量控制器(2)、可调导流装置(3)、冷却腔(4)、可调扰流装置(6)、若干测温探头(8)和位于冷却腔(4)内部用于支撑探测器的上游隔热支架(51)、下游隔热支架(52);其中,气体降温装置(1)一端用于与气源连接,另一端依次经流量控制器(2)、可调导流装置(3)与冷却腔(4)的入口端连接,上游隔热支架(51)与下游隔热支架(52)之间的冷却腔内壁上设置可调扰流装置(6),各测温探头用于对探测器的各设定位置进行温度测量。通过本发明可以对不同环境下探测器冷却效果进行测量,以研究得出较优的探测器气冷方案。 | ||
搜索关键词: | 一种 探测器 气冷 测试 装置 | ||
【主权项】:
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