[发明专利]一种探测器气冷测试装置在审

专利信息
申请号: 202110577932.2 申请日: 2021-05-26
公开(公告)号: CN113311473A 公开(公告)日: 2021-08-27
发明(设计)人: 付金煜;祝翱.吉马雷斯.达.科斯塔;梁志均;屈化民 申请(专利权)人: 中国科学院高能物理研究所
主分类号: G01T7/00 分类号: G01T7/00
代理公司: 北京君尚知识产权代理有限公司 11200 代理人: 司立彬
地址: 100049 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种探测器气冷测试装置,其特征在于,包括气体降温装置(1)、流量控制器(2)、可调导流装置(3)、冷却腔(4)、可调扰流装置(6)、若干测温探头(8)和位于冷却腔(4)内部用于支撑探测器的上游隔热支架(51)、下游隔热支架(52);其中,气体降温装置(1)一端用于与气源连接,另一端依次经流量控制器(2)、可调导流装置(3)与冷却腔(4)的入口端连接,上游隔热支架(51)与下游隔热支架(52)之间的冷却腔内壁上设置可调扰流装置(6),各测温探头用于对探测器的各设定位置进行温度测量。通过本发明可以对不同环境下探测器冷却效果进行测量,以研究得出较优的探测器气冷方案。
搜索关键词: 一种 探测器 气冷 测试 装置
【主权项】:
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