[发明专利]光学防伪元件及其检测、制造方法和装置、安全物品有效

专利信息
申请号: 202110565737.8 申请日: 2021-05-24
公开(公告)号: CN113147216B 公开(公告)日: 2022-09-13
发明(设计)人: 王斌;陈韦;刘萃;叶蕾;董亚鲁;林旷野 申请(专利权)人: 中钞印制技术研究院有限公司;中国印钞造币集团有限公司
主分类号: B42D25/30 分类号: B42D25/30;B42D25/387;B42D25/40;G09F3/02
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 王云飞
地址: 100070 北京市丰*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本公开涉及一种光学防伪元件及其检测、制造方法和装置、安全物品。该光学防伪元件包括基材、第一滤光层、信息层和第二滤光层,其中,第一滤光层和第二滤光层分别设置在基材的两个独立的透明窗区域之上;第一滤光层用于对入射的日光光源进行滤光处理,允许第一波段的光线透过;第二滤光层用于对入射的日光光源进行滤光处理,允许第二波段的光线透过;信息层设置在第一或第二滤光层的表面之上,信息层用于在受到预定波段的光线激发时发射出发射光,显示发光信息。本公开光学防伪元件可以利用日光光源识别光学防伪元件的真伪,使得荧光材料的发光信息通过透视方式呈现,从而提高了光学防伪元件的伪造门槛,提升了光学防伪元件的安全性。
搜索关键词: 光学 防伪 元件 及其 检测 制造 方法 装置 安全 物品
【主权项】:
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