[发明专利]一种多层转接板的晶圆级焊接工艺在审

专利信息
申请号: 202110560995.7 申请日: 2021-05-21
公开(公告)号: CN113299601A 公开(公告)日: 2021-08-24
发明(设计)人: 冯光建;黄雷;郭西;高群 申请(专利权)人: 浙江集迈科微电子有限公司
主分类号: H01L21/768 分类号: H01L21/768
代理公司: 无锡市兴为专利代理事务所(特殊普通合伙) 32517 代理人: 屠志力
地址: 313100 浙江省湖州市长兴县经济技术开发*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明涉及一种多层转接板的晶圆级焊接工艺,包括以下步骤:在硅片表面制作TSV盲孔,并在硅片表面形成钝化层,在钝化层上沉积种子层,然后电镀形成TSV金属柱,并抛光硅片的表面金属得到带有TSV金属柱的硅片;减薄硅片的背面使背面TSV金属柱露出,同时在其他区域刻蚀凹槽;在凹槽所在面的硅片表面沉积钝化层,在钝化层表面沉积种子层,电镀使金属焊锡填充在所述凹槽内,然后去除种子层;把两个带有金属焊锡的硅片进行面对面键合,热压后使焊锡融合、硅片之间的钝化层键合,最终实现两个硅片之间的焊接。本发明利用钝化层键合和金属熔融键合的方式实现双层转接板互联,把双层TSV金属柱焊接在一起,能够增加TSV金属柱的深度,有利于后续的模组嵌入工艺。
搜索关键词: 一种 多层 转接 晶圆级 焊接 工艺
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