[发明专利]基于微通道板位敏阳极光子计数成像探测器的优化方法在审

专利信息
申请号: 202110550172.6 申请日: 2021-05-20
公开(公告)号: CN115371806A 公开(公告)日: 2022-11-22
发明(设计)人: 邢妍;马俊林;姜洋;蔡盛 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01J1/42 分类号: G01J1/42
代理公司: 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 代理人: 魏毅宏
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明涉及基于微通道板位敏阳极光子计数成像探测器的优化方法,包括:对MCP内空间电荷行为建模、MCP出射端与感应层薄膜间空间电荷行为建模、感应层薄膜内空间电荷扩散行为建模,电荷分割型阳极极间串扰建模,并把上一环节结果作为下一环节的输入,实现各环节设计参数或输出特性与系统输出图像的关联,完成基于MCP位敏阳极光子计数成像探测器的整体优化设计,该优化方法能够全面系统分析探测器内空间电荷行为对图像质量的影响,实现各环节设计参数或输出特性与系统输出图像的关联,为整体探测器设计优化提供相应的理论依据,效率高、成本低、适用性广泛。
搜索关键词: 基于 通道 板位敏 阳极 光子 计数 成像 探测器 优化 方法
【主权项】:
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