[发明专利]基于梯度折射率透镜的微型化荧光样品检测装置和方法在审
| 申请号： | 202110547332.1 | 申请日： | 2021-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN113189076A | 公开（公告）日： | 2021-07-30 |
| 发明（设计）人： | 李浩宇;丁旭旻;刘俭;崔健炜;赵一轩 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465 | 代理人： | 符继超 |
| 地址： | 150000 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于梯度折射率透镜的微型化荧光样品检测装置和方法，由LED光源发出的入射光经半球透镜形成平行光，平行光经过激发滤光片，再经二向色镜反射，反射光经梯度折射率透镜汇聚到镀膜样品表面，聚焦光斑激发样品表面发出荧光，反射荧光信号依次经过梯度折射率透镜，二向色镜和收集滤光片后，入射至聚焦透镜，平行光经聚焦透镜汇聚到CCD相机上进行成像，从而完成镀膜样品的表面检测。本发明通过将LED、半球透镜和梯度折射率透镜等元件组成的宽场成像系统高度集成，精简装置体积，实现微型化。还可以用于大型光学元件的在线实时检测，精密工业外壳内腔检测等。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 梯度 折射率 透镜 微型 荧光 样品 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于哈尔滨工业大学，未经哈尔滨工业大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110547332.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
