[发明专利]一种基于相移技术的叠加态涡旋光模式纯度测量方法在审
| 申请号： | 202110541543.4 | 申请日： | 2021-05-18 |
| 公开（公告）号： | CN113218502A | 公开（公告）日： | 2021-08-06 |
| 发明（设计）人： | 任元;王琛;丁友;刘通;邱松;徐莉园;吴昊 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军战略支援部队航天工程大学 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42;G01J9/00 |
| 代理公司： | 北京中政联科专利代理事务所(普通合伙) 11489 | 代理人： | 郑久兴 |
| 地址： | 101416*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明涉及一种基于相移技术的叠加态涡旋光模式纯度测量方法。涡旋光是一种具有螺旋波阵面的特殊光场，多种模式的单态涡旋光自干涉可生成叠加态涡旋光，模式纯度是指叠加态涡旋光中各种模式所占的比例。叠加态涡旋光束的强度分布会受到单态涡旋光束相位的调制，通过相移技术，可以实现单态涡旋光的相位解调，得到相位分布与模式纯度。首先，使用空间光调制器依次制备包含四种相移的叠加态涡旋光，通过准直与滤波后用CCD相机检测对应的光强分布。通过相位解调，可以计算每种模式占的比例，即实现模式纯度测量。本方法光路简洁，操作简便，灵活性强，可精确地测量叠加态涡旋光中各种模式的纯度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 相移 技术 叠加 涡旋 模式 纯度 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国人民解放军战略支援部队航天工程大学，未经中国人民解放军战略支援部队航天工程大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110541543.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
