[发明专利]一种基于ATE的SOC芯片测试方法有效
| 申请号： | 202110532131.4 | 申请日： | 2021-05-17 |
| 公开（公告）号： | CN113341296B | 公开（公告）日： | 2022-12-27 |
| 发明（设计）人： | 高杨 | 申请（专利权）人： | 上海科海华泰船舶电气有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海愉腾专利代理事务所(普通合伙) 31306 | 代理人： | 唐海波 |
| 地址： | 201601 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于ATE的SOC芯片测试方法，包括以下步骤：设计接口完成ATE平台和SOC芯片的连接；基于ATE平台进行SOC芯片LVDS的输入和输出测试；基于ATE平台进行SOC芯片ADC和DAC的动态测试。具有速率高，抗干扰能力强优点。同时又兼有集成度高，量产成本低等优点，可分析混合芯片测试所需的基于DSP的相干采样原理，以及不相干采样对测试结果的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 ate soc 芯片 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海科海华泰船舶电气有限公司，未经上海科海华泰船舶电气有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110532131.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
