[发明专利]一种电子元件性能测试装置及测试方法在审
| 申请号： | 202110516018.7 | 申请日： | 2021-05-12 |
| 公开（公告）号： | CN113281592A | 公开（公告）日： | 2021-08-20 |
| 发明（设计）人： | 张敏 | 申请（专利权）人： | 深圳市英达维诺电路科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;H05K7/20 |
| 代理公司： | 合肥国晟知识产权代理事务所(普通合伙) 34204 | 代理人： | 王少勇 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电子元件性能测试装置及测试方法，属于电子元件测试技术领域，包括设有引线套的测试底座，所述测试底座顶部两侧均通过可调节的夹持机构限位有若干连接机构，且连接机构内腔通过散热机构泵出的散热水液进行热量循环，且散热机构固设于测试底座一侧，所述测试底座后侧固定连接有可调节的承载机构，所述连接机构包括接线座。本发明中，通过设计的夹持机构，实现对边侧电路板的限位以及贴合散热，提高多个电路板插置连接的稳固性和同步散热效果；通过设计的散热机构，实现对多个接线座以及底部冷液水腔的水液循环调控，满足分区控制下的散热能力调节，适配对不同发热量的电子元件的散热处理，提高测试精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子元件 性能 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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