[发明专利]一种基于超快激光成像的大口径光学元件测量系统有效
| 申请号： | 202110513851.6 | 申请日： | 2021-05-12 |
| 公开（公告）号： | CN113008529B | 公开（公告）日： | 2021-08-06 |
| 发明（设计）人： | 彭琛;周文超;魏继锋;黄德权;常艳;蒋志雄;何均章 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院应用电子学研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人： | 陈法君 |
| 地址： | 621000 四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于超快激光成像的大口径光学元件测量系统，包括激光器、衍射光栅、光束调节件、待测光学元件、分光镜、色散元件、时间透镜模块、高速探测系统。本发明利用激光器产生宽光谱、高相干、高平坦度、超快脉冲激光；通过夫琅禾费衍射将脉冲激光的频域（光谱）信息被一一对应地映射到类线型的空间域上；通过柱棱镜成像或虚拟成像的方法将类线型光斑转换成矩形光斑，实现大口径实时测量；最终分别通过傅里叶色散及时间透镜映射实现对携带待测元件振幅、相位信息的激光实时测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 激光 成像 口径 光学 元件 测量 系统 | ||
【主权项】：
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