[发明专利]一种面向线性APD阵列非均匀性的自适应校正电路有效

专利信息
申请号: 202110512876.4 申请日: 2021-05-11
公开(公告)号: CN113375796B 公开(公告)日: 2022-09-09
发明(设计)人: 王斌;樊碧莹;王立新;韩本光;胡辉勇 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G01J1/46 分类号: G01J1/46
代理公司: 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 代理人: 刘长春
地址: 710000 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种面向线性APD阵列非均匀性的自适应校正电路,该自适应校正电路包括APD参考单元、APD工作单元、电容反馈式跨阻放大器CTIA1、电容反馈式跨阻放大器CTIA2、比较器Comp、翻转检测器、反相器F1、开关驱动寄存器、移位寄存器、D/A转换器和缓冲电路,所述APD参考单元和所述APD工作单元的偏置电压不同。本发明能够实现与大型APD阵列的片上集成,为线性模式下的大规模APD阵列提供了有效的信号校正技术途径。
搜索关键词: 一种 面向 线性 apd 阵列 均匀 自适应 校正 电路
【主权项】:
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