[发明专利]双波长双共焦激光显微测量装置与测量方法在审

专利信息
申请号: 202110476165.6 申请日: 2021-04-29
公开(公告)号: CN113189102A 公开(公告)日: 2021-07-30
发明(设计)人: 马小军;王琦;王宗伟;何智兵;唐兴;胡勇;叶成钢;高党忠 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84;G01N21/01
代理公司: 成都虹桥专利事务所(普通合伙) 51124 代理人: 杨长青
地址: 621900 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种双波长双共焦激光显微测量装置与测量方法,涉及光学精密检测技术领域,目的在于同时提升激光共焦系统的轴向分辨能力和横向分辨能力。本发明采用的技术方案是:双波长双共焦激光显微测量装置,包括激光器、入射光路、反射光路和探测装置,第一激光器I和激光器Ⅱ分别发出不同波长的激光束,经分束镜、准直器、偏振分光镜、四分之一玻片、物镜会聚到样品,反射光经物镜、四分之一玻片后,被偏振分光镜反射,再被半反半透镜分成两路,再分别进入探测器I和探测器Ⅱ进行探测。本发明将探测器I和探测器II分别安装于与物镜焦点共轭的位置,将双探测器归一化轴向响应曲线相乘后的输出作为共焦系统的输出,适用于光学高分辨测量。
搜索关键词: 波长 双共焦 激光 显微 测量 装置 测量方法
【主权项】:
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