[发明专利]电路检测方法在审
| 申请号： | 202110474667.5 | 申请日： | 2021-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN115267479A | 公开（公告）日： | 2022-11-01 |
| 发明（设计）人： | 曾杰;丁育林 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 徐文欣 |
| 地址： | 201203 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： |
一种电路检测方法，包括：提供待测存储电路；对所述待测存储电路进行第一次老化试验；在所述第一次老化试验后，对所述待测存储电路进行可靠性测试，获取第一最小工作电压V |
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| 搜索关键词： | 电路 检测 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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