[发明专利]大面积发光件上单个像素外量子效率快速检测系统及其检测方法有效
| 申请号： | 202110435452.2 | 申请日： | 2021-04-22 |
| 公开（公告）号： | CN113155416B | 公开（公告）日： | 2022-02-25 |
| 发明（设计）人： | 廖清;德健博;殷海玮;尹璠;付红兵 | 申请（专利权）人： | 首都师范大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01M11/04 |
| 代理公司： | 北京冠榆知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11666 | 代理人： | 王道川 |
| 地址： | 100048 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开大面积发光件上单个像素外量子效率快速检测系统检测及其方法，检测系统包括接收光路、定标光路和第三检测装置，接收光路用于接收待测发光件发出的入射光线，并测定其光强空间分布和待测发光件上每个像素对应的不同波长的光强；向接收光路发射不同频率入射光线以便获取接收光路对不同频率入射光线的响应函数；第三检测装置用于测定待测发光件发光时的总电流值；检测方法：接收光路的校准，待测发光件上单个像素的检测，待测发光件发光时的电流检测以及外量子效率的计算。本发明可以快速分析大面积发光件上单个像素点的外量子效率，有效提高大面积发光件上单个外量子效率检测的准确性，可应用于大面积发光器件的单个像素点的外量子效率测量。 | ||
| 搜索关键词： | 大面积 发光 单个 像素 量子 效率 快速 检测 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
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