[发明专利]单个开关周期内芯片动态结温监测系统及监测方法在审
| 申请号： | 202110429925.8 | 申请日： | 2021-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN113419154A | 公开（公告）日： | 2021-09-21 |
| 发明（设计）人： | 徐国卿;王翔;武慧莉 | 申请（专利权）人： | 上海大学 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01D21/02 |
| 代理公司： | 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 | 代理人： | 何文欣 |
| 地址： | 200444*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种单个开关周期内芯片动态结温监测系统及监测方法，操作步骤如下：(1)、基于开关特性参数预测PWM周期内关断时刻初始结温，用于获得功率器件在一个开关周期内关断时刻初始结温T |
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| 搜索关键词： | 单个 开关 周期 芯片 动态 监测 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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