[发明专利]一种汽车芯片生产制造性能测试方法有效
| 申请号： | 202110426184.8 | 申请日： | 2021-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN113109699B | 公开（公告）日： | 2023-02-17 |
| 发明（设计）人： | 王绪莲 | 申请（专利权）人： | 杭州道铭微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳峰诚志合知识产权代理有限公司 44525 | 代理人： | 卓雷棚 |
| 地址： | 311199 浙江省杭州市钱塘新*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种汽车芯片生产制造性能测试方法，其使用了一种测试辅助设备，该测试辅助设备包括支撑座、作业仓、调节装置、夹持装置、铺撒装置与清洁装置，本发明采用的调节装置，通过转轴转动同时带动带轮转动，带轮转动通过皮带带动每一个转轴转动，以实现每一个L型滑板后移，从而对多个芯片进行同步夹持，以便于后续多个对芯片进行模拟使用过程中的灰尘积附，采用的夹持装置，通过将多个芯片依次放置在放置架内腔，转动蜗杆，实现上侧的夹持板下拉，对多个放置架内的放置的芯片进行固定，采用的铺撒装置，通过开启鼓风机，将灰尘从铺撒斗内倒入，已模拟在使用过程中灰尘对芯片的积附过程。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 汽车 芯片 生产 制造 性能 测试 方法 | ||
【主权项】：
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