[发明专利]自测方法、测试装置以及计算机可读存储介质在审
| 申请号： | 202110400249.1 | 申请日： | 2021-04-14 |
| 公开（公告）号： | CN113190389A | 公开（公告）日： | 2021-07-30 |
| 发明（设计）人： | 邱锋波;左丰国;王玉冰 | 申请（专利权）人： | 西安紫光国芯半导体有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 黎坚怡 |
| 地址： | 710000 陕西省西安市西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开了一种自测方法、测试装置以及计算机可读存储介质。自测方法包括：通过第一逻辑信号控制所述专用集成芯片切换至自测模式，且启动所述专用集成芯片的时钟锁相环；通过参考时钟信号控制所述专用集成芯片的时钟锁相环运行，获取所述时钟锁相环的状态；响应于所述时钟锁相环处于锁住状态，则对每个所述存储单元进行写入和读取的操作，得到测试结果。通过这种方式，无需大量额外逻辑和布线资源，降低测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 自测 方法 测试 装置 以及 计算机 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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