[发明专利]一种薄膜试样交直流击穿场强自动测试系统在审
| 申请号： | 202110398411.0 | 申请日： | 2021-04-14 |
| 公开（公告）号： | CN113092968A | 公开（公告）日： | 2021-07-09 |
| 发明（设计）人： | 韩柏;侯尚振 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨理工大学 |
| 主分类号： | G01R31/12 | 分类号： | G01R31/12;G01N27/92;G01B11/06 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 150080 黑龙江省哈*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种薄膜试样交直流击穿场强自动测试系统，属于绝缘材料性能测试领域。本发明提供一种薄膜试样交直流击穿场强自动测试系统。整个系统运行分为测量、自动换样及分析显示过程，其中测量过程：通过测厚传感器，获得试样厚度，数字电压表记录击穿电压，由单片机将数据传递给上位机，最后上位机将数据以图表形式呈现，并保存数据；自动换样过程：当单片机检测到击穿结束，通过控制继电器，将上电极上拉，再通过控制步进电机，将待测式样移到测试位置；分析显示过程：上位机通过测试数据，结合场强公式及所选数据处理方式，直观反映材料的击穿特性。本发明所设计的击穿测试系统，减少换样次数，避免人为测厚误差，有效提高测量效率及安全性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 薄膜 试样 直流 击穿 场强 自动 测试 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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