[发明专利]用于在X射线设备中进行剂量测量的方法和设备在审
| 申请号： | 202110393965.1 | 申请日： | 2021-04-13 |
| 公开（公告）号： | CN113534228A | 公开（公告）日： | 2021-10-22 |
| 发明（设计）人： | 阿尔贝特·胡特雷尔;雅罗斯瓦夫·伊威基;斯特凡·克罗伊策;托马斯·韦伯 | 申请（专利权）人： | 西门子医疗有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/02 | 分类号： | G01T1/02;G01T1/20;A61B6/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 张春水;支娜 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于剂量测量的设备，所述设备设计用于在X射线设备(1)中使用，所述设备包括：镜元件(2)，所述镜元件设计用于将光场(L)耦合输入到穿过镜元件的X射线(R)中；测量单元(3)，所述测量单元用于测量在载体材料(T)处的射线感生的变化，其中载体材料(T)是镜元件(2)的一部分和/或是设备的在X射线设备(1)中常规使用时处于X射线设备(1)的辐射场中的其他部件的一部分。本发明还涉及一种用于剂量测量的对应的方法以及一种X射线设备。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 射线 设备 进行 剂量 测量 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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