[发明专利]一种光电耦合器辐射效应测试设备及测试方法有效
| 申请号： | 202110383705.6 | 申请日： | 2021-04-09 |
| 公开（公告）号： | CN113064046B | 公开（公告）日： | 2021-11-26 |
| 发明（设计）人： | 顾汉玉;季学敏;蔡毅 | 申请（专利权）人： | 深圳群芯微电子有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 深圳市道勤知酷知识产权代理事务所(普通合伙) 44439 | 代理人： | 何兵;吕诗 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田区华强北街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明属于耦合器技术领域，具体的说是一种光电耦合器辐射效应测试设备，包括护壳；所述护壳侧壁固接有多组银纤维防辐射材料；所述护壳内部固接有滑轨；所述滑轨上滑动连接有支撑平台；所述支撑平台顶部固接有承载平台；一种光电耦合器辐射效应测试设备的测试方法，将检测设备内部的杂质和灰尘清理干净，减少灰尘和杂质对光电耦合器接受辐射时的影响，然后将光电耦合器安装在承载平台的顶部，插好通电，然后打开检测设备内部的辐射发生器，将其对准光电耦合器照射，然后记录下实验数据。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光电 耦合器 辐射 效应 测试 设备 方法 | ||
【主权项】：
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