[发明专利]基于应用环境数据分析的瓦楞纸表面工艺控制系统及方法有效
申请号: | 202110364753.0 | 申请日: | 2021-04-06 |
公开(公告)号: | CN112731896B | 公开(公告)日: | 2021-06-15 |
发明(设计)人: | 孙俊军;舒奎明;闻栩栩;朱民强;石义伟 | 申请(专利权)人: | 浙江大胜达包装股份有限公司 |
主分类号: | G05B19/418 | 分类号: | G05B19/418 |
代理公司: | 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 | 代理人: | 付婧 |
地址: | 311215 浙江省杭州市萧山*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了基于应用环境数据分析的瓦楞纸表面工艺控制系统及方法,包括:计算模块、选取模块、模拟模块和控制模块;所述计算模块用于基于瓦楞纸的结构强度与瓦楞纸含水率的对应关系,计算所述瓦楞纸在不同应用环境下的含水率范围;所述选取模块用于采集瓦楞纸样本,并选取与所述不同应用环境下的含水率范围相符的瓦楞纸样本,生成模拟样本,将所述模拟样本传输给所述模拟模块;所述模拟模块用于对瓦楞纸的不同应用环境进行模拟,并采集在所述不同应用环境中所述模拟样本的含水率变化;所述控制模块根据所述模拟样本的含水率变化控制瓦楞纸表面工艺。该系统准确控制瓦楞纸在不同应用环境中的含水率,进而保证瓦楞纸在不同应用环境中的使用质量。 | ||
搜索关键词: | 基于 应用 环境 数据 分析 瓦楞纸 表面 工艺 控制系统 方法 | ||
【主权项】:
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