[发明专利]针对发光二极管的内建自测试在审
| 申请号： | 202110356660.3 | 申请日： | 2021-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN113552460A | 公开（公告）日： | 2021-10-26 |
| 发明（设计）人： | A·德西科;R·基奥多 | 申请（专利权）人： | 英飞凌科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/28;H05B45/50 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 黄倩 |
| 地址： | 德国诺伊*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开的实施例涉及针对发光二极管的内建自测试。在一些示例中，设备包括内建自测试，该内建自测试用于检测第一发光二极管(LED)和第二LED之间的故障。设备包括第一焊盘对和第二焊盘对，第一焊盘对被配置为连接至第一LED，第二焊盘对被配置为连接至第二LED。内建自测试被配置为：控制第一驱动器和第二驱动器以逐个导通连接到第一焊盘对和第二焊盘对的相应通过开关。内建自测试被配置为然后确定第一LED和第二LED两端的第一正向电压和第二正向电压。内建自测试可以基于正向电压来确定第一LED和第二LED之间是否存在故障。 | ||
| 搜索关键词： | 针对 发光二极管 测试 | ||
【主权项】：
暂无信息
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