[发明专利]针对发光二极管的内建自测试在审
| 申请号： | 202110348382.7 | 申请日： | 2021-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN113552459A | 公开（公告）日： | 2021-10-26 |
| 发明（设计）人： | A·德西科;R·基奥多 | 申请（专利权）人： | 英飞凌科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;H05B45/50 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 黄倩 |
| 地址： | 德国诺伊*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开的实施例涉及针对发光二极管的自建内测试。在一些示例中，设备包括用于检测发光二极管(LED)或LED的驱动器上的故障的内建自测试。设备包括被配置为连接到LED的焊盘对。内建自测试被配置为控制驱动器将与焊盘对中的焊盘连接的相应通过开关接通。内建自测试被配置为确定焊盘对中每个焊盘处的电压电平。内建自测试可以基于每个焊盘处的电压电平来确定在LED上、跨第一阳极焊盘与第一阴极焊盘、或驱动器上是否存在故障。 | ||
| 搜索关键词： | 针对 发光二极管 测试 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于英飞凌科技股份有限公司，未经英飞凌科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110348382.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：集成芯片
- 下一篇：硬件装置当中的工作负载分配
