[发明专利]流体饱和参数的确定方法、装置和计算机设备有效
| 申请号： | 202110345901.4 | 申请日： | 2021-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN113175321B | 公开（公告）日： | 2023-06-30 |
| 发明（设计）人： | 谢伟彪;殷秋丽;司兆伟 | 申请（专利权）人： | 中国石油天然气股份有限公司 |
| 主分类号： | E21B49/00 | 分类号： | E21B49/00;G01N24/08;G01V3/32;G01V3/14 |
| 代理公司： | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人： | 侯晓雅 |
| 地址： | 100007 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种流体饱和参数的确定方法、装置和计算机设备，属于储层评价技术领域。方法包括：确定待研究地区的目标储层；对于目标储层的每个深度，基于待研究地区的标准井的目标井段的一维核磁共振测井资料，确定目标储层在深度的第一图谱；获取目标储层的多个岩样的核磁共振实验数据，核磁共振实验数据为通过多个岩样的核磁共振实验得到的；对于每个岩样，基于岩样的核磁共振实验数据，确定岩样的第二图谱；基于多个岩样的第二图谱，确定目标储层在深度的第一参数矩阵；基于第一图谱和第一参数矩阵，确定目标孔隙的流体饱和参数，该方法降低了确定目标孔隙的流体饱和参数的成本。 | ||
| 搜索关键词： | 流体 饱和 参数 确定 方法 装置 计算机 设备 | ||
【主权项】：
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