[发明专利]流体饱和参数的确定方法、装置和计算机设备有效
申请号: | 202110345901.4 | 申请日: | 2021-03-31 |
公开(公告)号: | CN113175321B | 公开(公告)日: | 2023-06-30 |
发明(设计)人: | 谢伟彪;殷秋丽;司兆伟 | 申请(专利权)人: | 中国石油天然气股份有限公司 |
主分类号: | E21B49/00 | 分类号: | E21B49/00;G01N24/08;G01V3/32;G01V3/14 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人: | 侯晓雅 |
地址: | 100007 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 流体 饱和 参数 确定 方法 装置 计算机 设备 | ||
本申请提供了一种流体饱和参数的确定方法、装置和计算机设备,属于储层评价技术领域。方法包括:确定待研究地区的目标储层;对于目标储层的每个深度,基于待研究地区的标准井的目标井段的一维核磁共振测井资料,确定目标储层在深度的第一图谱;获取目标储层的多个岩样的核磁共振实验数据,核磁共振实验数据为通过多个岩样的核磁共振实验得到的;对于每个岩样,基于岩样的核磁共振实验数据,确定岩样的第二图谱;基于多个岩样的第二图谱,确定目标储层在深度的第一参数矩阵;基于第一图谱和第一参数矩阵,确定目标孔隙的流体饱和参数,该方法降低了确定目标孔隙的流体饱和参数的成本。
技术领域
本申请涉及储层评价技术领域,特别涉及一种流体饱和参数的确定方法、装置和计算机设备。
背景技术
在储层开发过程中,储层中孔隙的流体饱和度是评价储层的核心内容,关系到储层参数计算、储层储量计算、储层油藏描述和储层开发方案的制定;因此,确定储层中孔隙的流体饱和参数,对于高效的开发储层十分重要。
相关技术中,主要利用二维核磁共振测井方法来确定储层中孔隙的流体饱和度,该方法首先对岩样进行二维核磁共振实验,确定二维核磁共振图谱上束缚水、油气等区域规律,然后根据该区域规律对二维核磁共振图谱进行区域划分,进而基于划分的区域确定储层总孔隙的流体饱和度。由于进行二维核磁共振实验时和二维核磁共振测井时分别需要在两个维度上进行实验和测井,而分别在两个维度上进行实验和测井的实验仪器和测井仪器价格昂贵,导致二维核磁共振测井的费用较高,使得确定储层中孔隙的流体饱和度的成本较高。
发明内容
本申请实施例提供了一种流体饱和参数的确定方法、装置和计算机设备,能够降低确定储层中孔隙的流体饱和参数的成本。所述技术方案如下:
一方面,提供了一种流体饱和参数的确定方法,所述方法包括:
确定待研究地区的目标储层;
对于所述目标储层的每个深度,基于所述待研究地区的标准井的目标井段的一维核磁共振测井资料,确定所述目标储层在所述深度的第一图谱,所述一维核磁共振测井资料为通过所述目标井段的一维核磁共振测井工程得到的,所述目标井段为与所述目标储层深度对应的标准井的井段,所述第一图谱为孔隙参数与时间之间的关系曲线;
获取所述目标储层的多个岩样的核磁共振实验数据,所述核磁共振实验数据为通过所述多个岩样的核磁共振实验得到的;
对于每个岩样,基于所述岩样的核磁共振实验数据,确定所述岩样的第二图谱,所述第二图谱为孔隙参数与时间之间的关系曲线;
基于所述多个岩样的第二图谱,确定所述目标储层在所述深度的第一参数矩阵;
基于所述第一图谱和所述第一参数矩阵,确定目标孔隙的流体饱和参数,所述目标孔隙为所述目标储层在所述深度的孔隙。
在一种可能的实现方式中,所述岩样的核磁共振实验数据包括所述岩样在不同的回波间隔时间的饱和参数水核磁共振实验数据、离心核磁共振实验数据和饱和参数油核磁共振实验数据;
所述基于所述岩样的核磁共振实验数据,确定所述岩样的第二图谱,包括:
基于所述岩样分别在第一回波间隔时间和第二回波间隔时间下的饱和参数水核磁共振实验数据,确定所述岩样的第一饱和参数水图谱和第二饱和参数水图谱;
基于所述岩样分别在所述第一回波间隔时间和所述第二回波间隔时间下的离心核磁共振实验数据,确定所述岩样的第一离心图谱和第二离心图谱;
基于所述岩样分别在所述第一回波间隔时间和所述第二回波间隔时间下的饱和参数油核磁共振实验数据,确定所述岩样的第一饱和参数油图谱和第二饱和参数油图谱;
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