[发明专利]LCD异物缺陷彩色成像检测方法、电子设备及存储介质有效
| 申请号： | 202110344667.3 | 申请日： | 2021-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN112798613B | 公开（公告）日： | 2021-08-06 |
| 发明（设计）人： | 李国晓;李良湾;周波;王巧彬;苏达顺 | 申请（专利权）人： | 高视科技（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/94 | 分类号： | G01N21/94;G01N21/95 |
| 代理公司： | 惠州市超越知识产权代理事务所(普通合伙) 44349 | 代理人： | 陈文福 |
| 地址： | 215163 江苏省苏州市高新区嘉陵江路19*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请是关于一种LCD异物缺陷彩色成像检测方法。该方法包括：通过彩色工业相机在预设光源下对LCD模组进行拍摄，得到LCD模组图像；对LCD模组图像进行感兴趣区域提取，得到LCD待测图像，LCD待测图像中包括至少一个响应亮点；对LCD待测图像进行RGB通道识别，得到至少一个响应亮点在RGB三个通道分别对应的通道灰度值；根据第一光波的基色确定阈值分割通道；在阈值分割通道中使用灰度阈值对至少一个响应亮点对应的通道灰度值进行阈值分割，得到LCD模组图像中至少一个响应亮点对应的异物属性分类，异物属性分类包括灰尘和异物缺陷。本申请提供的方案，能够提升LCD模组异物缺陷检测的准确度，提高检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | lcd 异物 缺陷 彩色 成像 检测 方法 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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