[发明专利]光电器件与信道的测量方法及系统、装置、介质有效

专利信息
申请号: 202110335135.3 申请日: 2021-03-29
公开(公告)号: CN113091795B 公开(公告)日: 2023-02-28
发明(设计)人: 王珲;王炯明 申请(专利权)人: 上海橙科微电子科技有限公司
主分类号: G01D18/00 分类号: G01D18/00;G01D5/26;G01D5/353
代理公司: 上海段和段律师事务所 31334 代理人: 李佳俊;郭国中
地址: 200120 上海市浦东新区中国(上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种步骤S1:配置周期性激励源发送周期性激励信号A;步骤S2:在周期性激励信号A的输出点用采样设备AA采集输出信号A+NA,并进行多个周期的平均,过滤噪声;步骤S3:将采集到的输出信号A+NA作为输入接到待测器件或者信道H;步骤S4:在待测器件或者信道H的输出点用采样设备BB采集输出信号B+NB,并进行多个周期的平均值计算,过滤噪声;步骤S5:将采样设备AA和采样设备BB的采样结果传送给分析软件C,计算待测器件或信道H的传递函数。本发明通过对待测器件或通道的输入/输出采样信号的相关计算,解决了光信号到电信号或电信号到光信号或光信号到光信号之间器件或者信道传输函数无法方便实际测量的问题。
搜索关键词: 光电 器件 信道 测量方法 系统 装置 介质
【主权项】:
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