[发明专利]光电器件与信道的测量方法及系统、装置、介质有效
申请号: | 202110335135.3 | 申请日: | 2021-03-29 |
公开(公告)号: | CN113091795B | 公开(公告)日: | 2023-02-28 |
发明(设计)人: | 王珲;王炯明 | 申请(专利权)人: | 上海橙科微电子科技有限公司 |
主分类号: | G01D18/00 | 分类号: | G01D18/00;G01D5/26;G01D5/353 |
代理公司: | 上海段和段律师事务所 31334 | 代理人: | 李佳俊;郭国中 |
地址: | 200120 上海市浦东新区中国(上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光电 器件 信道 测量方法 系统 装置 介质 | ||
1.一种光电器件与信道的测量方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤S1:配置周期性激励源发送周期性激励信号A;
步骤S2:在周期性激励信号A的输出点用采样设备AA采集输出信号A+NA,并进行多个周期的平均,过滤噪声;
步骤S3:将采集到的输出信号A+NA作为输入接到待测器件或者信道H;
步骤S4:在待测器件或者信道H的输出点用采样设备BB采集输出信号B+NB,并进行多个周期的平均值计算,过滤噪声;
步骤S5:将采样设备AA和采样设备BB的采样结果传送给分析软件C,计算待测器件或信道H的传递函数;
经过采样噪声滤波后,激励源产生的信号A,经过待测器件或信道H后变为信号B,表达为:
B(t) = H(t)*Dt(i)
其中,Dt(i)和B(t)分别是待测器件或者信道H的时域码型冲击序列和输出采样信号,H(t)是待测器件或者信道H的脉冲响应传递函数的卷积矩阵,等式两边同时再乘以激励源码型序列D(i)的时域冲击序列Dt(i):
B(t)*Dt(i) = H(t)*Dt(i)*Dt(i)
D(j)的相关性特性为:
ABS(Correlation(D(i),D(j)))= M,当i=j
ABS(Correlation(D(i),D(j)))= 1 or 0,当i≠j
根据所述D(j)的相关性特性:
Dt(i)*Dt(i) = kM,
其中,k是常数且和每波特的采样点数目相关,H(t)=B(t)*Dt(i)/kM;
待测器件或信道H的脉冲传递函数是输出信号和输入信号时域冲击序列乘积的归一化结果,kM是常数,其中k由每波特采样点的数目确定,M是输入信号码型的长度;
当周期性激励信号A不属于理想的脉冲输出时,将A和输入信号时域冲击序列乘积,推导出A的脉冲反应传递函数,然后从B点得到的脉冲反应传递函数中将A的脉冲反应效应通过反卷积取消掉,得到仅含待测器件或信道的传递函数。
2.根据权利要求1所述的光电器件与信道的测量方法,其特征在于,所述步骤S1中的周期性激励信号A是通过脉冲波形和时域中的码型冲击序列进行时域卷积时得到。
3.根据权利要求1所述的光电器件与信道的测量方法,其特征在于,所述步骤S2中是通过对采样码型进行多组周期性激励信号A的平均,对噪声信号进行过滤。
4.根据权利要求1所述的光电器件与信道的测量方法,其特征在于,根据被测器件或者信道的要求,选择激励信号是电信号或者光信号,对采样设备选择对应的电接口或者光接口。
5.根据权利要求1所述的光电器件与信道的测量方法,其特征在于,所述待测器件或信道H的脉冲传递函数是输出信号和输入信号时域冲击序列乘积的归一化结果。
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