[发明专利]一种单比特带通采样合成孔径雷达成像方法在审

专利信息
申请号: 202110331264.5 申请日: 2021-03-26
公开(公告)号: CN112965066A 公开(公告)日: 2021-06-15
发明(设计)人: 陈胜垚;何健;席峰;刘中 申请(专利权)人: 南京理工大学
主分类号: G01S13/90 分类号: G01S13/90
代理公司: 南京理工大学专利中心 32203 代理人: 岑丹
地址: 210094 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种单比特带通采样合成孔径雷达成像方法,属于合成孔径雷达(SAR)成像领域。本发明首先根据带通采样定理对中频SAR回波进行带通采样,并对采样值进行单比特量化,获得单比特带通采样数据;随后,利用SAR图像场景的稀疏性,构建单比特带通采样数据的稀疏表示模型,将SAR成像问题转换为单比特稀疏重构问题;最后,基于二元迭代硬阈值(BIHT)算法完成SAR成像。本发明能够很大程度降低回波采样数据的总比特数,从而一定程度上降低大数据量给SAR存储、传输系统带来的负担,且该方法依赖的系统复杂度较低,易于实现。
搜索关键词: 一种 比特 采样 合成孔径雷达 成像 方法
【主权项】:
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